Equipos de medición

Equipos de medición

Sonda medidor de dureza media a extra, PRBSHDD

DeFelsko
PRBSHDD
Sonda de dureza Shore D (PRBSHDD) para materiales rígidos, diseñada para integrarse con el sistema PosiTector. Ideal para plásticos duros y aleaciones ligeras, ofrece alta precisión (±1 Shore D) y repetibilidad, con cuerpo de plástico duradero y dimensiones compactas.
Sonda de espesor para recubrimientos sobre metales no ferrosos, integrada al sistema Defelsko PosiTector. Ofrece compatibilidad total, lecturas fiables y calibración rápida, con diseño ergonómico y cable de alta durabilidad para uso prolongado. Ideal para control de calidad y mantenimiento en industrias automotriz, naval y maquinaria pesada.
Otros equipos de medición y repuestos

TESTEX MICROMETRO COMPARADOR DE ESPESOR , RTMMILCERT

DeFelsko
RTMMILCERT
El Testex Micrometro Comparador de Espesor RTMMILCERT es un instrumento de precisión para medir el espesor de las réplicas Testex y evaluar la rugosidad de superficies metálicas, asegurando la adecuada preparación antes de la aplicación de recubrimientos. Calibrado para réplicas Testex, mide 0–13 mm con resolución de 0.01 mm (50 g, aluminio anodizado).
Medidores de Prueba de Adhesión

MEDIDOR DE ADHERENCIA, ATM50A

DeFelsko
ATM50A
El ATM50A es un medidor de adherencia manual para recubrimientos, diseñado para pruebas de campo. Con dolly de 50 mm y sensor de ultrasonido, ofrece resultados precisos y replicables sin necesidad de energía externa. Construcción en aluminio y batería de 9 V, ideal para pintura, galvanizado y estructuras metálicas. Rango: 45–1000 µm; Precisión: ±3%.
Medidores de Espesor de Recubrimiento

MEDIDOR DE ESPESOR AVANZADO PARA NO FÉRRICOS, N3-G

DeFelsko
N3-G
Medidor de espesor avanzado DeFelsko N3-G para recubrimientos no conductivos en metales no ferrosos como aluminio y cobre. Diseño ergonómico, pantalla LCD de alto contraste y rango de 0 a 1500 µm. Precisión: 0–50 µm ±(1 µm + 1%), >50 µm ±(2 µm + 1%). Almacenamiento para 100,000 lecturas en 1,000 lotes, conectividad WiFi y USB, modo de escaneo y...
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