Equipos de medición

Medidores de Prueba de Adhesión

MEDIDOR DE ADHERENCIA POSITEST AT-A AUTOMÁTICO, ATA50T

DeFelsko
ATA50T
PosiTest AT-A Automatic ATA50T, un equipo automatizado para medir la adherencia de revestimientos en superficies planas y curvas. Capaz de 50 MPa (7250 psi) con resolución 0.01 MPa (1 psi) y rango de 0 a 600 micrones. Incluye liberación automática, pantalla LCD y almacenamiento de resultados. Ideal para construcción, automoción y aeroespacial.
Medidores de Porosidad y Fugas

PosiTest , AIR

DeFelsko
AIR
PosiTest AIR de Defelsko es un instrumento avanzado para la detección de fugas en recubrimientos mediante pruebas de aire de bajo voltaje. Evalúa la continuidad del recubrimiento y detecta discontinuidades que pueden comprometer la integridad. Incorpora sensores de precisión, calibración automática y una carcasa resistente para uso industrial.
Sonda de espesor para recubrimientos sobre metales no ferrosos, integrada al sistema Defelsko PosiTector. Ofrece compatibilidad total, lecturas fiables y calibración rápida, con diseño ergonómico y cable de alta durabilidad para uso prolongado. Ideal para control de calidad y mantenimiento en industrias automotriz, naval y maquinaria pesada.
Equipos de medición

Sonda F Metales Ferricos, PRBF-G

DeFelsko
PRBF-G
La sonda F para metales ferrosos PRBF-G está diseñada para medir espesores de recubrimientos en superficies ferrosas con el sistema PosiTector. Ofrece ergonomía, durabilidad y lecturas rápidas y precisas, facilitando el control de calidad y el mantenimiento en entornos industriales. Compatible y fácil de calibrar.
Medidores de Espesor de Recubrimiento

MEDIDOR DE ESPESOR AVANZADO PARA NO FÉRRICOS, N3-G

DeFelsko
N3-G
Medidor de espesor avanzado DeFelsko N3-G para recubrimientos no conductivos en metales no ferrosos como aluminio y cobre. Diseño ergonómico, pantalla LCD de alto contraste y rango de 0 a 1500 µm. Precisión: 0–50 µm ±(1 µm + 1%), >50 µm ±(2 µm + 1%). Almacenamiento para 100,000 lecturas en 1,000 lotes, conectividad WiFi y USB, modo de escaneo y...
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